Gerätetechnik


	DualBeam FEI Scios REM-FIB Gerät für 3-dim. Untersuchungen EDAX-Analytik mit EDX, WDX und EBSD für chemische Analysen und kristallographische Untersuchungen in-situ Zug-Druckprüfung bis 5 kN in-situ Heiztisch bis 1000 °C

	Rasterelektronenmikroskop FEI XL30 FEG-Kathoden REM EDAX-Analytik mit EDX und EBSD für chemische Analysen und kristallographische Untersuchungen

	Focused Ion Beam FEI Strata Ga-Ionenstrahlmikroskop zur Anfertigung von cross section und zur TEM-Lamellenpräparation

	Rasterelektronenmikroskop Zeiss EVO 15 Rasterelektronenmikroskop mit EDX zur Materialcharakterisierung